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[quote][i]Original von SlimJimmy[/i] [quote][i]Original von Ballermeister[/i] Ich zitiere einfach mal Teile der Wikipedia: "Unter Elektromigration (EM) versteht man einen Materialtransport durch allmähliche Bewegung von Ionen in einem festen Leiter, der durch den elektrischen Strom verursacht wird." "Material, welches an einer Stelle abgetragen wird, lagert sich an einer anderen Stelle wieder an." "Die Elektromigration vermindert die Zuverlässigkeit von integrierten Schaltungen. Im schlimmsten Fall kann sie zum Totalausfall einer oder mehrerer Leitungen führen und somit zur Unbrauchbarkeit der gesamten Schaltung." "Mit zunehmender Miniaturisierung von hoch- und höchstintegrierten Schaltungen (VLSI/ULSI) erhöht sich die Ausfallwahrscheinlichkeit durch EM, weil sich sowohl die Leistungsdichte als auch die Stromdichte vergrößert." "Anstelle von Aluminium, bei dem Elektronenmigration bei rund 500 kA/cm² auftritt, nutzen einige Hersteller ungefähr seit dem Jahr 2000 Kupfer als Leiterbahnmaterial. Die Vorteile von Kupfer sind seine bessere elektrische Leitfähigkeit (ermöglicht höhere Taktfrequenzen) und seine geringere Anfälligkeit gegenüber Elektromigration."[/quote] Auf gut Deutsch, Zerfall durch Nutzung? Also Zersetzung der Leiterbahnen durch Stromfluss? Letztlich kann man dagegen aber nichts machen, oder? Schon gar nicht wieder reparieren?[/quote]
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